Ram Stress Test V2.2.004 漢化免費版 是winwin7給大家介紹的用于檢測電腦中內存條的工具，支持檢測SD內存、DDR內存，不敢是老型號還是新型號的內存條都可以檢測，有需要的用戶一起和winwin7往下看吧~


 

Ram Stress Test 使用說明

閃動數字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF依次代表內存條的8顆顆粒。

從左到右橫著數：0-7代表第1顆粒區域、8-F代表第2顆粒、0-7代表第3顆粒、8-F代表第4顆粒、0-7代表第5顆粒代、8-F代表第6顆粒、0-7代表第7顆粒、8-F代表第8顆粒

1、DDR 8位與16位的單面測法:

⑴： 0-7(1 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第1顆粒已經損壞

⑵：8-F(2 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第2顆粒已經損壞

⑶：0-7(3 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第3顆粒已經損壞

⑷：8-F(4 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第4顆粒已經損壞

⑸：0-7(5 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第5顆粒已經損壞

⑹：8-F(6 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第6顆粒已經損壞

⑺：0-7(7 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第7顆粒已經損壞

⑻：8-F(8 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第8顆粒已經損壞

注意DR的顆粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8

2、如果你是128M的雙面DDR內存,如以上顯示界面圖:

1-16M 
16-32M
32-48M
48-64M

從1M到64M的上面的4根虛線上出現亂碼的話,說明這根內存的的第一面的顆粒有問題(判斷哪個顆粒的好壞按照以上的說明)

64-80M 
80-96M
96-112M
112-128M

從64M到128M的上面的4根虛線上出現亂碼的話,說明這根內存的的第二面的顆粒有問題(判斷哪個顆粒的好壞按照以上的說明)

注意:在內存的PCB板上的兩邊標著1與92的代表第一面，93與184的代表第二面。1-128M的8根虛線是用來區分兩面區域的作用.

3、SD的8位與16位的單面測法:

⑴. 0-7(1)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第8顆粒已經損壞

⑵. 8-F(2)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第4顆粒已經損壞

⑶. 0-7(3)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第7顆粒已經損壞

⑷. 8-F(4)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第3顆粒已經損壞

⑸. 0-7(5)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第6顆粒已經損壞

⑹. 8-F(6)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第2顆粒已經損壞

⑺. 0-7(7)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第5顆粒已經損壞

⑻. 8-F(8)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第1顆粒已經損壞

（注： PCB板上從1到84為第一面，顆粒的排列順序從1到84為8-7-6-5-4-3-2-1，切記注意）

4、通過以上的介紹，說明SD的雙面是跟DDR的是一樣的。但是顆粒的好壞判斷要按照它們的排列循序來判斷。

5、PCB板的短路或者虛焊的測法:如果在8根虛線上都出現亂碼，說明這根內存的PCB板有問題。